SMT 애플리케이션이 SMT 반도체 패키지의 오픈 판을 감지하는데 유용
검사 IC의 수 : 63(표준), 1008(최대)
검사 시간 : 편당 2.4ms
당 2.4ms 2.4ms

SMT application is effective for detecting open pin of semi-conductor package Number of inspection, 63(standard), 1008(maximum), Inspection time : 2.4ms ms