Technical specifications
General Basic channel installed : 320 test channels
Maximum expandable test channel : 1024 test channels(expandable 4096 to test channels)
Configuration of scanner board: High-speed reed relay technology with 6-wire
measurement and programmable 8-wire method, 64 test channels per board
Guardning circurity : 5 guard points per step
Signal source driving: DC measuble-progammable current source 0.1UA 2-mA
programmable vottage source OV 10V
AC measure : DDS sign wacvew programmable frequency1Hz 1MHz
Open / Short Testing 2 programmable ranges from 10ohm 99 ohm
open/short - Testing cyrrent : 1mA 10mA
Testing speed : 500 test points per secong
Resistance Range : 0.1ohm 100mohm
Testing speed : 2.6ms 100ms(Typical : 2.6ms)
Capacitance Testing Range : 1pF 20,000uF
Testing Speed : DC measure - 8.6ms 60ms / AC measure method: 18ms 36ms ECAP polarity
check case voltage measurement
Inductance (Inductance) Testing Range : 1uH 40H
Testing speed : 15ms 55ms
Diode, Zener, Transistor, FET, SCR Holding Current, DIAC Vreakover Voltage, Photo coupler and IC missing/orientation test
Programming steps Approx, 10,000 test steps per test program
Printer 40 Columns
Main CPU P5
Memory : 123MB
Hard disk : 20GB or Aboe
Operation System : Window 98
Functional test modules Power up : 10 channels
Voltage :0V 10v in 100mV steps
Current : 1max(2 channels)0.5A max(other channels)
Measure DC Voltage : 0V -10V
Measure DC Voltage : 10 channels
Range : DC 13Mhz
Input Voltage : 0.5V 5V
Accuracy : 2%(1KHz 13MHz)
Threshold : variable, in 100mV steps
Resistor Load : 10 channels
Range : 10ohm 100kohm, in 10ohm steps
Power : 0.5W (10Ω~100Ω)0.25W(100Ω~100KΩ)
Type of Fixture Size - Pneumatic : 15in X 22in, (381mmX533mm)max
Vacuum : 17in X 20in, (432mmX508mm)max
Physical Dimension L: 45.3in (1150mm) W : 27.8in(705mm) H : 59.5in(1510mm)
Electrical supply requirement Operating Voltage :110V/220V Frequency : 50Hz/60Hz
Operating Environment Temperature : 0~45℃
Humidity : 10~90%
Compressed air : 4~6 bar
Hardware features

High - Speed

High Speed Performance with teed Replay


Digital-to-analog and analog-to-digital converter offers 64K
resolution for accurate measurements.

Reliable measurement

Direct digital(DDS) generates low-distortion test waveform
with high frequency stability. Proprietary advanced digital filter-ing
technology (DFT) Provides an excellent signal-to-noise ratio stable measurement.

Kelvin method

6-point measurement can be programmed to 8-point Kelvin
method for measuring very small resistor and inductor values.


Detects the open pins of SMT IC, BGA package and IC pin at the bus.

Functional Test module

Applies power it PCB to check signals.
it also can connect external source, instruments and oscilloscope fut,
further critical performance test.

Electolytic capacitors reverse

A reverse-mounted electrolytic capacitor can be detected
by probing the aluminum case of the component.

3 Point test

Bipolar Transistor : on/off and hFE test
FET : on/off and Vds test


SCR holding Current, DIAC Break over voltage.

Hardware Features

User friendiy Windows 98

Ten highest component failure display

Super debug mode

Permits fast trouble shooting.
Programmable options include driving current, delay time and testing frequency.

Waveform analyzer

Assists in determining required delay time for accurate mea-surement.

Easy to Program

Programming is easily accomplished through Auto Learn,
step testing and individual editing.
Tolerances can be globally edited : guarding, skip or waiting time are editing indlviduallt.

Functional Platform

User friendly table form programming technique is very easy to use and support.

Boardman fauit locator

Automatic graphic display of fauit location.

Full testing features

이중 공구 해드 체계

동인 한 검사 중 유닌(UUT) 또는 다른 UUT의 경우,
PC보드 로딩 및 언로딩을 위한 처리 시간을 절감

GPIB 인터페이스

동인 한 검사 중 유닌(UUT) 또는 다른 UUT의 경우,
PC보드 로딩 및 언로딩을 위한 처리 시간을 절감

디지털I/O cald

디지털I/O의 방향을 프로그램 할 수 있다.
디지털 입출력 시 TTL 및 CMOS 모두와 호환 가능하다.

경계 스캔

부품 설명서, 스캔경로 길이 및 비트순서는 소프트웨어로 자동처리 된다.
시스템 내부 프로그래밍(ISP) : EEPROM, PLD 및 시스템 레벨이 프로그램을 제공한다.

낸드 트리 검사

신뢰성 높은 접속 결과를 얻을 수 있다.

자동 인장

UUT가 합격품임을 나타내는 도장 인쇄

외부 방전 모듈

검사 전 UUT이 잔류 고전압 및 DSD를 방전 시킨다.

AutoPro 623Fi 인라인 시스템

OK/NG 이동 시스템과 연결된 인라인 테스터


UUTs 검사 상태 및 불량 기록 추적

고정구 설계 소프트웨어

고정구 자동 설계, 프로브 선택 및 검사 프로그램 제공

HP TestJet 기술 HP TestJet

SMT 애플리케이션 SMT 반도체 패키지의 오픈 핀을 감지 하는데 유용
검사 IC의 수 : 63(표준), 1008(최대)
검사 시간 : 핀 당 2.4ms


보드맵 불량 위치 추적 장치 소프트웨어는 수리 유도를 위해 별도의 PC에 설치되어 있다.
저 저항 및 코일 값 측정시 6정을 8포인트의 캘빈 방법으로 프로그램 할 수 있다.