

General | Basic channel installed : 320 test channels Maximum expandable test channel : 1024 test channels(expandable 4096 to test channels) Configuration of scanner board: High-speed reed relay technology with 6-wire measurement and programmable 8-wire method, 64 test channels per board Guardning circurity : 5 guard points per step Signal source driving: DC measuble-progammable current source 0.1UA 2-mA programmable vottage source OV 10V AC measure : DDS sign wacvew programmable frequency1Hz 1MHz |
---|---|
Open / Short Testing | 2 programmable ranges from 10ohm 99 ohm open/short - Testing cyrrent : 1mA 10mA Testing speed : 500 test points per secong |
Resistance | Range : 0.1ohm 100mohm Testing speed : 2.6ms 100ms(Typical : 2.6ms) |
Capacitance | Testing Range : 1pF 20,000uF Testing Speed : DC measure - 8.6ms 60ms / AC measure method: 18ms 36ms ECAP polarity check case voltage measurement |
Inductance (Inductance) | Testing Range : 1uH 40H Testing speed : 15ms 55ms |
Diode, Zener, Transistor, FET, SCR Holding Current, DIAC Vreakover Voltage, Photo coupler and IC missing/orientation test | |
Programming steps | Approx, 10,000 test steps per test program |
Printer | 40 Columns |
Main CPU | P5 Memory : 123MB Hard disk : 20GB or Aboe Operation System : Window 98 |
Functional test modules | Power up : 10 channels Voltage :0V 10v in 100mV steps Current : 1max(2 channels)0.5A max(other channels) Measure DC Voltage : 0V -10V Measure DC Voltage : 10 channels Range : DC 13Mhz Input Voltage : 0.5V 5V Accuracy : 2%(1KHz 13MHz) Threshold : variable, in 100mV steps Resistor Load : 10 channels Range : 10ohm 100kohm, in 10ohm steps Power : 0.5W (10Ω~100Ω)0.25W(100Ω~100KΩ) |
Type of Fixture | Size - Pneumatic : 15in X 22in, (381mmX533mm)max Vacuum : 17in X 20in, (432mmX508mm)max |
Physical Dimension | L: 45.3in (1150mm) W : 27.8in(705mm) H : 59.5in(1510mm) |
Electrical supply requirement | Operating Voltage :110V/220V Frequency : 50Hz/60Hz |
Operating Environment | Temperature : 0~45℃
Humidity : 10~90% Compressed air : 4~6 bar |


High - Speed
High Speed Performance with teed Replay
Accuracy
Digital-to-analog and analog-to-digital converter offers 64K
resolution for accurate measurements.
Reliable measurement
Direct digital(DDS) generates low-distortion test waveform
with high frequency stability. Proprietary advanced digital filter-ing
technology (DFT) Provides an excellent signal-to-noise ratio stable measurement.
Kelvin method
6-point measurement can be programmed to 8-point Kelvin
method for measuring very small resistor and inductor values.
eScan
Detects the open pins of SMT IC, BGA package and IC pin at the bus.
Functional Test module
Applies power it PCB to check signals.
it also can connect external source, instruments and oscilloscope fut,
further critical performance test.
Electolytic capacitors reverse
A reverse-mounted electrolytic capacitor can be detected
by probing the aluminum case of the component.
3 Point test
Bipolar Transistor : on/off and hFE test
FET : on/off and Vds test
SCR, DIAC Range
SCR holding Current, DIAC Break over voltage.



User friendiy Windows 98
Ten highest component failure display
Super debug mode
Permits fast trouble shooting.
Programmable options include driving current, delay time and testing frequency.
Waveform analyzer
Assists in determining required delay time for accurate mea-surement.
Easy to Program
Programming is easily accomplished through Auto Learn,
step testing and individual editing.
Tolerances can be globally edited : guarding, skip or waiting time are editing indlviduallt.
Functional Platform
User friendly table form programming technique is very easy to use and support.
Boardman fauit locator
Automatic graphic display of fauit location.




Auto pro 623 Fi in-line system

HP TestJet

이중 공구 해드 체계
동인 한 검사 중 유닌(UUT) 또는 다른 UUT의 경우,
PC보드 로딩 및 언로딩을 위한 처리 시간을 절감
GPIB 인터페이스
동인 한 검사 중 유닌(UUT) 또는 다른 UUT의 경우,
PC보드 로딩 및 언로딩을 위한 처리 시간을 절감
디지털I/O cald
디지털I/O의 방향을 프로그램 할 수 있다.
디지털 입출력 시 TTL 및 CMOS 모두와 호환 가능하다.
경계 스캔
부품 설명서, 스캔경로 길이 및 비트순서는 소프트웨어로 자동처리 된다.
시스템 내부 프로그래밍(ISP) : EEPROM, PLD 및 시스템 레벨이 프로그램을 제공한다.
낸드 트리 검사
신뢰성 높은 접속 결과를 얻을 수 있다.
자동 인장
UUT가 합격품임을 나타내는 도장 인쇄
외부 방전 모듈
검사 전 UUT이 잔류 고전압 및 DSD를 방전 시킨다.
AutoPro 623Fi 인라인 시스템
OK/NG 이동 시스템과 연결된 인라인 테스터
바코드
UUTs 검사 상태 및 불량 기록 추적
고정구 설계 소프트웨어
고정구 자동 설계, 프로브 선택 및 검사 프로그램 제공
HP TestJet 기술 HP TestJet
SMT 애플리케이션 SMT 반도체 패키지의 오픈 핀을 감지 하는데 유용
검사 IC의 수 : 63(표준), 1008(최대)
검사 시간 : 핀 당 2.4ms
수리작업
보드맵 불량 위치 추적 장치 소프트웨어는 수리 유도를 위해 별도의 PC에 설치되어 있다.
저 저항 및 코일 값 측정시 6정을 8포인트의 캘빈 방법으로 프로그램 할 수 있다.