MANUALICT
Down을 다시 실시한 후 측정하는 Retry 기능 적용
(ICT장비 중 유일함 / 최대 5회) 핀 접촉불량에 의한 가성불량을 최소화
안전센서에 의해 장비작동이 자동으로 중단됨,
운용자 및 장비의 안정성 확보
Cable 탈착이 매우 수월함
스위치, Abort 스위치 3개의 측정용 스위치는 Rep-
air 후 재 측정하는 보드에 대해 생산수량에 관한
통계치를 정확히 산출함.(세부설명 참조)
연동을 위한 배선 및 가구물 배치공간 확보
이용해서 만듦 보드회전, 상/하판보기, 부품찾기,
확대/축소, Net-Trace, 불량위치 확인
기술사양| 일반 | 기본채널설정:320개의 검사 채널 확장 가능한 최대 검사 채널 수: 1024검사 채널(4096 검사 채널까지 확장가능) 스캐너 보드 구성 : 보드 당 64개 검사 채널 보유, 6개 전선 측정 및 프로그램이 가능한 8개 전선 방식의 고속리드 릴레이 기술 가당회로 : 스템 당 5개 가드 포인트 신호 소스 구동 : DC측정-프로그램 가능한 전류 소스 0.1UA 2-mA 프로그램 가능한 전압 소스 ov 10v AC 측정 : DDS사인 파장의 프로그램 가능 주파수 1Hz 1MHz |
|---|---|
| 오픈/쇼트 검사 | 10hm에서 99 ohm까지 범위에서 2개 프로그램 가능 오픈/쇼트 - 검사전류 : 1mA 10mA 검사속도 : 초당 검사 포인트 500개 |
| 저항 | 범위 : 0.1ohm 100mohm 검사속도 : 2.6ms 100ms(일반적 : 2.6ms) |
| 용량(Capacitance) | 검사범위 : 1pF 20,000uF 검사속도 : DC 측정방법 - 8.6ms 60ms / AC 측정방법 : 18ms 36ms ECAP 극성의 검사 케이스 전압측정 |
| 코일 (Inductance) | 검사범위 : 1uH 40H 검사속도 : 15ms 55ms |
| 다이오드, 제너, 트렌지스터, FET, SCR 홀딩 전류, DIAC 브레이크오버 전압, 광접합 소자 및 IC 미삽/방향 검사 | |
| 프로그램 단계 | 검사 프로그램 당 약 10,000 검사 단계 |
| 프린터 | 40칼럼 |
| 메인 CPU | PS 메모리 : 123MB 하드 디스크 : 20GB 또는 그이상 방향 시스템 : 윈도우 98 기능 감사모듈 파워 업 : 10개 채널 전압 : 100mV 단계로 0V 10V 전류 : 최대 1mA(2채널) 최대 0.5A(다른채널) 측정 DC 전압 : 0V -10V 측정 주파수 : 10 채널 범위 : DC 13Mhz 입력 전압 : 0.5V 5V 공차 : 2%(1KHz 13MHz) 초기 : 100mV 단계에서 가변 적용 저항 : 10채널 범위 : 10ohm 단계에서 10ohm 100kohm 전력 : 0.5w (10Ω~100Ω)0.25W (100Ω~100kΩ) |
| Fixture 형태 | 사이즈 - 기체 부 : 15in, X 22in, (381mmX533mm)최대 진공 부 : 17in, X 20in, (432mmX508mm)최대 |
| 외관치수 | 길이 : 45.3in (1150mm) 폭:27.8in(705mm) 높이:59.5in(1510mm) |
| 전기 공급 사양 | 작동 전압 : 110V/220V 주파수: 50Hz / 60Hz |
| 작동환경 | 온도 : 0~45 ℃ 습도 : 10~90% 공기압 : 4~6 bar |
Hardware features
고속
리드 릴레이의 고속성능
정밀도
디지털-아날로그 및 아날로그-디지털 컨버터는 64K를 지원하므로 정확한 측정이 가능하다.
측정의 신뢰도
직접 디지털 합성(DDS)은 안정적 고주파로
일그러짐이 낮은 검사 파형을 생성한다.
뛰어난 신호 대 잡음 비율의 사유 첨단 디지털필터링
기술(DFT)로 안정적인 측정을 할 수 있다.
캘빈(Kelvin)방법
저 저항 및 코일 값 측정 시 6포인트 측정을
8포인트의 캘빈 방법으로 프로그램 할 수 있다.
e-스캔
버스(Bus 회로의 SMT IC, BGA 패키지 및 IC핀의 오픈 핀을 검사한다.
기능 검사 모듈
신호 검사를 위한 전원을 PCB에 공급한다. 주요 추가 성능 검사를 위해
외부 신호소스, 검사 장치 및 오실로스코프를 연결하기도 한다.
전해 커패시터 역삽 검사
부품의 알루미늄케이스에 Probe를 접촉시켜 검출할 수 있다.
3포인트 검사
양극 트랜지스터 : on/off 및 hfe 검사
FET : on/off 및 Vds 검사
SCR, DIAC 검사
SCR 유지 전류, DIAC 브레이크 오버 전압
Software Features
사용하기 쉬운 윈도우즈 시스템
검사결과 후 최상 10가지 불량부품에 대한 시스플레이
초 성능 디버그 모드
초고속 고장 수리가 가능하다. 동력 전류,
지연 시간 및 검사 주파수등을 프로그램 할 수 있다.
파형 분석
정확한 측정을 위한 지연 시간을 정할 수 있도록 한다.
프로그램 용이
자동 습득(Auto Learn), 단계별 검사 및 개별 편집을 통해
쉽게 프로그램 할 수있다. 공차를 전체적으로 수정할 수도있다.
가딩, 스켑 또는 대기시간을 각각 편집 할 수 있다.
기능적인 플랫폼
사용하기 쉬운 형태의 프로그래밍 사용 및 지원이 매우 용이하다.
보드맵 뷸량 위치
뷸량 위치의 자동 그래픽 디스플레이
Full testing features
Option
Auto pro 623 Fi in-line system
HP TestJet
이중 공구 해드 체계
동인 한 검사 중 유닌(UUT) 또는 다른 UUT의 경우,
PC보드 로딩 및 언로딩을 위한 처리 시간을 절감
GPIB 인터페이스
동인 한 검사 중 유닌(UUT) 또는 다른 UUT의 경우,
PC보드 로딩 및 언로딩을 위한 처리 시간을 절감
디지털I/O cald
디지털I/O의 방향을 프로그램 할 수 있다.
디지털 입출력 시 TTL 및 CMOS 모두와 호환 가능하다.
경계 스캔
부품 설명서, 스캔경로 길이 및 비트순서는 소프트웨어로 자동처리 된다.
시스템 내부 프로그래밍(ISP) : EEPROM, PLD 및 시스템 레벨이 프로그램을 제공한다.
낸드 트리 검사
신뢰성 높은 접속 결과를 얻을 수 있다.
자동 인장
UUT가 합격품임을 나타내는 도장 인쇄
외부 방전 모듈
검사 전 UUT이 잔류 고전압 및 DSD를 방전 시킨다.
AutoPro 623Fi 인라인 시스템
OK/NG 이동 시스템과 연결된 인라인 테스터
바코드
UUTs 검사 상태 및 불량 기록 추적
고정구 설계 소프트웨어
고정구 자동 설계, 프로브 선택 및 검사 프로그램 제공
HP TestJet 기술 HP TestJet
SMT 애플리케이션 SMT 반도체 패키지의 오픈 핀을 감지 하는데 유용
검사 IC의 수 : 63(표준), 1008(최대)
검사 시간 : 핀 당 2.4ms
수리작업
보드맵 불량 위치 추적 장치 소프트웨어는 수리 유도를 위해 별도의 PC에 설치되어 있다.
저 저항 및 코일 값 측정시 6정을 8포인트의 캘빈 방법으로 프로그램 할 수 있다.